從哪幾個方面可以測評貼片電容功能
測評貼片電容功能，從三個方面進行！
先是貼片電容的四個慣例電功能，即容量Cap. 損耗DF，絕緣電阻IR和耐電壓DBV，通常的，X7R貼片電容的損耗值DF<=2.5%，越小越好，IR*Cap>500歐*法，BDV>2.5Ur.
其次是貼片電容的加快壽數功能，在125deg.c環境溫度和2.5Ur直流負載條件下，芯片應本領100小時不擊穿，質量好的可耐1000小時不擊穿。
再次是貼片電容的耐熱沖擊功能，將貼片電容浸入300deg.c錫爐10秒，多做幾粒，顯微鏡下調查能否有外表裂紋，然后可測驗容量損耗并與熱沖擊前比照分辨芯片能否內部裂紋。
貼片電容在電路上出現問題，有可能是貼片電容自身質量不良，亦有可能是設計時選擇標準欠佳或是在外表貼裝機械力熱沖擊等對貼片電容形成損傷等要素形成。
